Nanomechanikai tulajdonságok mérése atomerő mikroszkópiával

Nyomtatóbarát változatNyomtatóbarát változat
Típus: 
BSc szakdolgozat téma - alkalmazott fizika
Félév: 
2016/17/2.
Témavezető: 
Név: 
Lenk Sándor
Email cím: 
lenk@eik.bme.hu
Intézet/Tanszék/Cégnév: 
Fizika Intézet, Atomfizika Tanszék
Beosztás: 
tudományos munkatárs
Elvárások: 

Kísérleti beállítottság, angol nyelvtudás.

Leírás: 

Az atomerő-mikroszkóp (AFM) a nanotechnológia egyik legfontosabb vizsgálati és manipulációs eszköze. A BME Atomfizika Tanszéke a Medicontur Orvostechnikai Kft. által vezetett, 2014-ben indult „A szürkehályog hatékony gyógyítását elősegítő orvostechnika kutatás-fejlesztések” projektben vásárolt, a piac egyik vezető készülékgyártójától, egy ilyen, precíziós készüléket.  Az eszközzel a topológiai képalkotás mellett lehetőség van a nano-mechanikai tulajdonságok vizsgálatára.

A hallgató feladata, hogy áttekintse az AFM-en alapuló nanomechanikai tulajdonságmérések irodalmát. Vizsgálja a különböző beültethető (intraokuláris) műanyag szemlencséknek (IOL) a nano-mechanikai tulajdonságait különböző körülmények (pl. eltérő hidratáció) között és értelmezze a kapott eredményeket.