Az atomierő mikroszkóp elsődlegesen a felületek topográfiájának nagy felbontású, nanométeres tartományban történő vizsgálatára használt műszer. Amennyiben sík hordozóra (például szilicium vagy Mica szeletre) nanorészecskéket viszünk fel, úgy lehetőségünk nyílik ezen nanorészecskék átmérőjének a mérésére.

A szakdolgozat célja, hogy a hallgató elsajátítsa az atomi erő mikroszkópia korszerű méréstechnikáját, optimálja a nanorészecskék felületre történő kötését, illetve a felvitt részecskéket kísérletileg vizsgálja. Végül, de nem utolsó sorban cél a méreteloszlás meghatározásának részleges automatizálása.