IC-k nagyfrekvenciás immunitásának tesztelésére alkalmas mérőrendszer

Nyomtatóbarát változatNyomtatóbarát változat
Cím angolul: 
Development of a measurement system for the characterization of high frequency IC immunity
Típus: 
BSc szakdolgozat téma - alkalmazott fizika
Félév: 
2018/19/2.
Témavezető: 
Név: 
Gyüre-Garami Balázs (MSc)
Email cím: 
gyurbal@gmail.com
Intézet/Tanszék/Cégnév: 
Bosch Magyarország
Beosztás: 
kutató-fejlesztő munkatárs
Konzulens: 
Név: 
Dr. Simon Ferenc
Email cím: 
f.simon@eik.bme.hu
Intézet/Tanszék: 
Fizika Tanszék
Beosztás: 
egyetemi tanár
Hallgató: 
Név: 
Gonda Iván
Képzés: 
Fizika BSc - alkalmazott fizika
Elvárások: 
kísérletező kedv, stabil alapok fizika laboratórium és méréstechnika terülén
Leírás: 
Az EMC (elektromágneses kompatibilitás) mérések során elektronikai
eszközök nagyfrekvenciás viselkedését vizsgáljuk. A gyakorlati EMC
fejlesztés során gyakran felmerülő probléma az egyes integrált áramköri
elemek (IC-k) nem ismert nagyfrekvenciás ellenállósága. Ezen tulajdonságok
megismerésére céljából végzett mérések megvalósítása az egyes IC-kre komoly
méréstechnikai kihívás, mivel biztosítani kell kisfrekvenciára tervezett
eszközök RF jellel való kontrollált gerjesztését. A jelölt feladata
műveleti erősítők un. EMIRR (electromagnetic interference rejection ratio)
tulajdonságának mérésére alkalmas mérőeszköz tervezése, mérések
elvégzésése, a tapasztalt hibás viselkedés gyökérokának vizsgálata.
 
Titkosítas: 
Hozzáférés nincs korlátozva