A hallgató neve: | specializációja: |
A záróvizsgát szervező tanszék neve: TTK, Fizika Intézet, Atomfizika Tanszék |
A témavezető neve:
Dr. Lenk Sándor - tanszéke: TTK, Fizika Intézet, Atomfizika Tanszék - beosztása: egyetemi docens - email címe: lenk@eik.bme.hu |
A kidolgozandó feladat címe: SiC nanorészecskék méreteloszlásának kísérleti meghatározása |
A téma rövid leírása, a megoldandó legfontosabb feladatok felsorolása: Az atomierő mikroszkóp elsődlegesen a felületek topográfiájának nagy felbontású, nanométeres tartományban történő vizsgálatára használt műszer. Amennyiben sík hordozóra (például szilicium vagy Mica szeletre) nanorészecskéket viszünk fel, úgy lehetőségünk nyílik ezen nanorészecskék átmérőjének a mérésére. A szakdolgozat célja, hogy a hallgató elsajátítsa az atomi erő mikroszkópia korszerű méréstechnikáját, optimálja a nanorészecskék felületre történő kötését, illetve a felvitt részecskéket kísérletileg vizsgálja. Végül, de nem utolsó sorban cél a méreteloszlás meghatározásának részleges automatizálása.
|
A záróvizsga kijelölt tételei: |
Dátum: |
Hallgató aláírása: |
Témavezető aláírása*: |
Tanszéki konzulens aláírása: |
A témakiírását jóváhagyom (tanszékvezető aláírása): |
Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem Természettudományi Kar |
1111 Budapest, Műegyetem rakpart 3. K épület I. em. 18. www.ttk.bme.hu |