A nanoszerkezeteket tartalmazó rétegek alkalmazási területei rohamosan bővülnek az utóbbi években, többek között a szenzorika, a napelemtechnológia és a fotonika területén. A munka célja szenzorikai célra alkalmas vékonyrétegek készítése, valamint a készített rétegek optikai vizsgálata. Roncsolásmentes módszer lévén a rétegépülést folyamatosan nyomon tudjuk követni folyadékcellában, és a rétegépülés folyamatát, valamint a réteg szerkezetét kinetikai és optikai modellekkel írjuk le. A vizsgálat kiterjed különböző alacsony dimenziójú felületi szerkezetek megtervezésére, előállítására, valamint fehérjék, gázok és gőzök ezekhez való kötődésének optikai érzékelésére. A jelölt feladata (1) a rétegek elkészítése, (2) mérések végzése különleges folyadékcellákkal és elrendezésekben a rétegépülés közben és után (in situ és ex situ vizsgálatok), valamint (3) a mérések elemzése, optikai és kinetikai modellek alkotása a folyamatok nyomon követésére.  Az optikai méréseket az EK MFA Fotonika laboratórium ellipszometria csoportjában végezzük (http://www.ellipsometry.hu).