Diplomamunka feladat a Fizikus mesterképzési szak hallgatói számára

A hallgató neve: Egri Dávid specializációja: Fizikus MSc - optika és fotonika
A záróvizsgát szervező tanszék neve: Fizika Intézet, Atomfizika Tanszék
A témavezető neve: Dr. Balogh Emeric
- munkahelye: SEMILAB Zrt. (1117 Budapest, Prielle Kornélia utca 2.)
- beosztása: fejlesztőmérnök
- email címe: emeric.balogh@semilab.hu
A konzulens neve: Dr. Beleznai Szabolcs
- tanszéke: Fizika Intézet, Atomfizika Tanszék
- beosztása: Egyetemi Adjunktus
- email címe: beleznai@eik.bme.hu
A kidolgozandó feladat címe: Nanostruktúrált rács-szerű alakzatok vizsgálata elektromágneses tér szimulációval
A téma rövid leírása, a megoldandó legfontosabb feladatok felsorolása:

A Semilab Zrt. más ipari partnerekkel közösen optikai méréstechnikát fejleszt diffrakciós rács-szerű struktúrák gyors, megbízható és érintésmentes karakterizálása céljából. Ilyen jellegű minta szerkezeteket használnak pl. vertikális orientációjú lézer eszközök kialakításakor különböző alkalmazásra (optikai kapcsolók, távolságmérő szenzorok, stb.). Az optikai rács feladata ebben az esetben a stabil, egymódusú lézer kibocsájtás elősegítése.

 

  • A hallgató feladata, hogy megismerje a Semilab Zrt. által fejlesztett elektromos térszimulációs szoftver csomagot, és végezzen összehasonlítást a kereskedelmi forgalomban kapható egyéb szoftverek között (melyek a Semilab-nál szintén rendelkezésre állnak). Modellezze a lézer eszköz gyártása során kialakított rács szerkezeteket az elérhető szoftverekkel és tegyen javaslatot a szükséges minimális modellezési apparátusra, megengedhető közelítésekre.
  • Hasonlítsa össze a modell által számolt spektrális eredményeket az optikai mérőműszer által mért spektrumokkal. Vizsgálja a numerikus modellezésnél használt, valódi mért spektrumokra illesztett paraméterek egymás közötti korrelációját. Adjon javaslatot az optimális fittelő algoritmus típusra és paraméterezésre a kiértékelési tapasztalatok alapján.
  • Határozza meg az ipari monitorozás számára releváns mérőszámok fittelésből származó numerikus stabilitását, és becsülje meg hogy ez hogyan aránylik a mérésből származó jel/zaj viszonyhoz.
  • Mindehhez szakirodalmi források mellett a Semilab Zrt-nél rendelkezésre álló műszerek (pl. polarizált spektroszkópiai reflektométer, spektroszkópiai ellipszométer, atomerőmikroszkópia, stb.) és optikai szimulációs programok eredményei is felhasználhatóak.

 

A záróvizsga kijelölt tételei:
Dátum:
Hallgató aláírása:
Témavezető aláírása*:
Tanszéki konzulens aláírása:
A témakiírását jóváhagyom
(tanszékvezető aláírása):
*A témavezető jelen feladatkiírás aláírásával tudomásul veszi, hogy a BME TVSZ 145. és 146.§ alapján az egyetem a képzési célok megvalósulása érdekében a szakdolgozatok, illetve diplomamunkák nyilvánosságát tartja elsődlegesnek. A hozzáférés korlátozása csak kivételes esetben, a dékán előzetes hozzájárulásával lehetséges.
Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem
Természettudományi Kar
1111 Budapest, Műegyetem rakpart 3. K épület I. em. 18.
www.ttk.bme.hu