A gamma spektrometria szcintillációs és félvezető detektorok alkalmazására épül. Több, egymással szemben előnyökkel illetve hátrányokkal rendelkező kristályfajtát alkalmaznak a rutinszerű mérésekhez és a kutatási gyakorlatban is. A szakdolgozat készítője áttekinti a detektorok válaszjeleinek kialakulásához vezető fizikai folyamatokat két gyakran használt detektortípusra: a NaI(Tl) és a nagytisztaságú Ge detektorokra. Megvizsgálja, hogy az egyes folyamatok révén keletkező válaszjel-csoportok milyen módon függenek a sugárzás energiájától, és miképpen jelennek meg a gamma spektrumokban. Illesztőfüggvényeket dolgoz ki a teljesenergia-csúcsok területének meghatározására, valamint más fontos alakelemek leírására, első sorban jellemzően kis aktivitású, környezeti ellenőrzés során előálló gamma spektrumokra alkalmazható esetekben. Saját számítógépes programot állít össze az illesztések végrehajtására és összehasonlítja az általa kapott eredmények pontosságát más, rutinszerűen alkalmazott programokéval. Erre a célra jóságvizsgálati kritériumrendszert dolgoz ki, amellyel minősíthető a meghatározások pontossága (accuracy) és reprodukálhatósága (precision).