A röntgen fotoelektron spektroszkópiás (XPS) mérések során felvett spektrumokon megjelenő csúcsok a minta felületén található atomok egyes elektronpályáihoz tartoznak. Amennyiben egy atom valamilyen kémiai kötést hoz létre, az módosítja az atom elektronszerkezetét, és így a hozzá tartozó csúcsok pozícióját is. Ha egy elem több különböző kötésállapotban is jelen van a felületen, a hozzá tartozó csúcsok több különböző komponensből állnak, és szerkezetük komplikált lehet. Az egyes csúcsok dekonvolúciója többnyire nem triviális.  Az egyazon mintáról felvett különböző spektrumokon megjelenő komponensek között azonban összefüggések vannak, ami felhasználható a dekonvolúció bizonytalanságának csökkentésére.

A hallgató feladata a témához tartozó szakirodalom áttekintése, az XPS spektrumokon megjelenő háttér- és csúcsok alakját befolyásoló tényezők megértése, és annak demonstrálása, hogy több spektrum párhuzamos feldolgozása javítja a spektrumokból kinyerhető információ megbízhatóságát.