Szilícium-karbid rétegellenállás mérése örvényáram módszerrel

Nyomtatóbarát változatNyomtatóbarát változat
Cím angolul: 
Silicon carbide sheet resistance measurement by eddy current
Típus: 
BSc szakdolgozat téma - alkalmazott fizika
BSc szakdolgozat téma - fizikus
MSc diplomamunka téma - nanotechnológia és anyagtudomány
MSc diplomamunka téma - optika és fotonika
MSc diplomamunka téma - kutatófizikus
Félév: 
2022/23/2.
Témavezető: 
Név: 
Dr. Pongrácz Anita
Email cím: 
anita.pongracz@semilab.hu
Intézet/Tanszék/Cégnév: 
Semilab Zrt.
Beosztás: 
Applikációs és Termékmarketing részlegvezető
Konzulens: 
Név: 
Fehér Titusz
Email cím: 
feher.titusz@ttk.bme.hu
Intézet/Tanszék: 
Fizika Tanszék
Beosztás: 
egyetemi docens
Elvárások: 

Alapvető mérési ismeretek, érdeklődés az elektromos méréstechnológia iránt, angol nyelvtudás. Ipari környezetben végzendő munkára való nyitottság, szorgalom.

Leírás: 

A rétegellenállás pontos és érintésmentes mérése a félvezető eszközök gyártástechnológiájában kiemelkedő fontosságú módszer, tiszta félvezető és vegyület-félvezető anyagok (elsősorban szilícium-karbid) esetén is jól használható. A rétegellenállás pontos ismerete és monitorozása elengedhetetlen például a teljesítményelektronikai chipgyártók számára a szilícium-karbid epitaxiális rétegnövesztés és n-típusú szennyezés optimalizálásához.

A Semilab Zrt. laboratóriumában a hallgató megismerkedhet a vegyület-félvezetők anyagi tulajdonságaival, azok méréstechnikai vizsgálatával. Feladata a műszeres analitikai mérések elvégzése, az eredmények kiértékelése és a jelenség fizikai hátterének megértése. MSc szinten a hallgató bekapcsolódik a méréstechnika kísérleti-elméleti fejlesztésébe is.

Titkosítas: 
Hozzáférés nincs korlátozva